標題：承試三級資質/接地電阻測試儀

產品概述

產品概述(shu)：

承試三級資質/接地電阻測試儀，是按新的防雷接地電阻檢測標準而設計制造的，短路測試電流達20mA，精密3線法或簡易2線法測量接地電阻，導入FFT(快速傅立葉變換)技術、AFC(自動頻率控制)技術，具有*的抗干擾能力和環境適應能力，重復測試*性強。其廣泛應用于電力、電信、氣象、油田、建筑、防雷及工業電氣設備等的接地電阻、接地電壓測量。

承試三級資質/接地電阻測試儀由主機、測試線、輔助接地棒、數據軟件、通訊線等組成。主機采用一體化工具箱式設計，用聚丙烯塑膠作為原料，添加新型復合填充料一次注塑成形，密度小、重量輕、強度、剛度、硬度、耐磨性、耐熱性、絕緣性能更*，其箱體能承受約200kg的壓力，確保各種環境測試的高精度、高穩定性和高可靠性。主機超大LCD顯示，具有背光、棒圖指示，一目了然，能存儲2000組數據，通過數據軟件可以實現歷史數據讀取、查閱、保存、報表、打印等功能。

性能特點：

1.二、三線法測試接地電阻、回路電阻、導通電阻；
2.等電位連接電阻、接地電壓、交流電壓測試；
3.按氣象防雷接地電阻測試新標準設計；
4.接地電阻測試電流達20mA；
5.軍用工具箱設計，耐壓200kg；
6.FFT、AFC技術、抗干擾能力強；
7.量 程：0.000Ω～3000Ω；
8.分辨率：0.001Ω。

測(ce)量步驟：

1)將兩個接地(di)(di)探針沿接地(di)(di)體輻射方向(xiang)分別插入距接地(di)(di)體20m、40m的地(di)(di)下，插入深度(du)為400mm，如(ru)下圖所(suo)示。 接地(di)(di)電阻測試使(shi)用圖解(jie)

接地電阻測試使用(yong)圖解:a)實(shi)際操作(zuo) b)等效(xiao)原(yuan)理

2)將接(jie)地電阻測量儀(yi)平(ping)放(fang)于(yu)接(jie)地體附(fu)近，并進行接(jie)線，接(jie)線方法如下(xia):

①用短的(de)導線(xian)將接地(di)體與(yu)接地(di)測量儀的(de)接線(xian)端(duan)"E1"(三(san)端(duan)鈕(niu)的(de)測量儀)或(huo)與(yu)C2、"短接后的(de)公(gong)共端(duan)(四端(duan)鈕(niu)的(de)測量儀)相連。

②用長的(de)導線(xian)將距接地體40m的(de)測(ce)量探針(電流(liu)探針)與(yu)測(ce)量儀的(de)接線(xian)鈕"C1"相連(lian)。

③用余下的長度(du)居中的導線將距接(jie)地體⒛m的測量探針(zhen)(電位探針(zhen))與測量儀的接(jie)線端"P1"相連。

3)將(jiang)測量(liang)儀(yi)水平放置后，檢(jian)查檢(jian)流計的(de)指(zhi)針是否(fou)(fou)指(zhi)向中(zhong)(zhong)心(xin)(xin)線，否(fou)(fou)則(ze)調節(jie)"零位(wei)調整(zheng)器"使測量(liang)儀(yi)指(zhi)針指(zhi)向中(zhong)(zhong)心(xin)(xin)線。

4)將(jiang)"倍率標(biao)度"(或稱粗調旋鈕)置于大倍數，并慢(man)慢(man)地轉(zhuan)動發電機轉(zhuan)柄(指針開(kai)始偏移)，同時旋動"測量標(biao)度盤"(或稱細調旋鈕)使檢流計指針指向中心線。

5)當(dang)檢(jian)流計的指(zhi)針(zhen)(zhen)接近(jin)(jin)于(yu)(yu)平衡時(指(zhi)針(zhen)(zhen)近(jin)(jin)于(yu)(yu)中心線(xian))加快搖動轉柄，使其轉速(su)達到120r/min以上，同時調整"測量標(biao)度盤(pan)"，使指(zhi)針(zhen)(zhen)指(zhi)向中心線(xian)。

6)若"測(ce)(ce)量標(biao)度(du)盤"的(de)讀(du)數過(guo)小(xiao)(小(xiao)于1)不易讀(du)準確(que)時，說明倍(bei)(bei)率標(biao)度(du)倍(bei)(bei)數過(guo)大。此時應將"倍(bei)(bei)率標(biao)度(du)"置于較(jiao)小(xiao)的(de)倍(bei)(bei)數，重新調(diao)整(zheng)"測(ce)(ce)量標(biao)度(du)盤"使指針指向中心線(xian)上(shang)并(bing)讀(du)出準確(que)讀(du)數。

7)計(ji)算測(ce)量結(jie)果，即R地="倍(bei)率(lv)標度"讀(du)數×"測(ce)量標度盤"讀(du)數。