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標題:35KV變頻串聯諧振成套試驗裝置
產品概述
產(chan)品簡介:
35KV變頻串聯諧振成套試驗裝置,主要針對10kV、35kV、110kV、220kV、變電站及線路等所有電氣主設備的交流耐壓試驗設計制造。電抗器采用多只分開設計,既可滿足高電壓、小電流的設備試驗條件要求,又能滿足低電壓的交流耐壓試驗要求,具有較寬的適用范圍,是地、市、縣級高壓試驗部門及電力安裝、修試工程單位理想的耐壓設備。
設備(bei)遵循標(biao)準:
GB50150-2006 《電(dian)氣(qi)儀器安裝(zhuang)工程(cheng)電(dian)氣(qi)設(she)備(bei)交接試驗(yan)標準》
DL/T849.6-2004 《電力(li)設備(bei)測試儀器通用技(ji)術條件第6部分:高壓諧振試驗儀器》
JB/T9641-1999 《試驗變(bian)壓器》
GB10229 《電抗器(qi)》
GB/T.311-1997 《高壓輸(shu)變電設備的(de)絕(jue)緣(yuan)與配合(he)》
DL/T846-2004 《高電壓測試設備通用技(ji)術條件》
GB4793-1984 《電子(zi)測量儀器安全要求》
GB2900 《電工(gong)名詞(ci)術語》
GB4208 《外(wai)殼(ke)防護等級》
GB191 《包裝貯運標(biao)志》
GB/T16927-1997 《高電壓試驗技術》
應用范圍(wei):
35KV變頻串聯諧振成套試驗裝置是運用串(chuan)(chuan)聯(lian)(lian)諧振(zhen)的(de)原理,利用勵磁變壓(ya)器(qi)激(ji)發(fa)串(chuan)(chuan)聯(lian)(lian)諧振(zhen)回(hui)路,通過(guo)調節變頻控制器(qi)的(de)輸(shu)出(chu)頻率(lv),使(shi)得回(hui)路中的(de)電(dian)抗器(qi)電(dian)感L和(he)試(shi)(shi)品電(dian)容C發(fa)生(sheng)串(chuan)(chuan)聯(lian)(lian)諧振(zhen),諧振(zhen)電(dian)壓(ya)即為試(shi)(shi)品上所(suo)加電(dian)壓(ya)。變頻諧振(zhen)試(shi)(shi)驗(yan)裝置廣(guang)泛用于電(dian)力、冶金、石油、化(hua)工等行業,適用于大(da)容量、高電(dian)壓(ya)的(de)電(dian)容性試(shi)(shi)品的(de)交接和(he)預防性試(shi)(shi)驗(yan)。
主要特點(dian):
1、體積小、重(zhong)量輕,適合于現場(chang)使用
集調(diao)(diao)壓、調(diao)(diao)頻、控制(zhi)及保護功能為一體,省去了(le)笨重的(de)(de)調(diao)(diao)壓器,而且(qie)操作(zuo)方便、讀數直觀。由于(yu)(yu)系統Q值較高(30-120),有效地解決了(le)由于(yu)(yu)電源容量的(de)(de)不(bu)足對現場(chang)試(shi)驗(yan)的(de)(de)制(zhi)約。當(dang)電壓等級(ji)較高時,電抗器采用多級(ji)或疊(die)積式結構,便于(yu)(yu)運用輸及現場(chang)安裝(zhuang)。
2、安裝可靠性高
采用*設計思想、高品(pin)質(zhi)的IGBT及(ji)驅動(dong)回路使(shi)輸(shu)出波形失真(zhen)度小,頻(pin)率(lv)輸(shu)出穩定性好(hao),具有(you)良好(hao)的IGBT、過電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)、過電(dian)(dian)(dian)壓(保護(hu)值可根據需(xu)要人為整(zheng)定)以及(ji)放(fang)電(dian)(dian)(dian)保護(hu)功能,可保護(hu)設備及(ji)人身(shen)的安(an)全;當試品(pin)放(fang)電(dian)(dian)(dian)或(huo)擊穿(chuan)時,由于諧振條(tiao)件(jian)被破壞,短(duan)路電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)小,只(zhi)有(you)試品(pin)試驗(yan)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)的1/Q,避(bi)免了因(yin)擊穿(chuan)對試品(pin)造(zao)成的損壞。
3、試驗的(de)等效性好
采用接近工(gong)頻(30HZ-300HZ)的交流電壓作為試(shi)驗電源,無論是在等(deng)效性和*性上都與50HZ/60HA的工(gong)頻電源非常接近,保證了試(shi)驗結果的可靠性和真實性。
故障(zhang)分析:
1.主機找(zhao)不到諧振點(dian)。
原因(yin):系統諧振(zhen)點在主機的(de)輸出頻率范圍之外;系統接線錯誤;
系統未(wei)可靠接(jie)地(di);高壓(ya)采樣反饋信號開路或連接(jie)不可靠;試品有故(gu)障。
2.主(zhu)機復位。
原因:主機供電電源波動(dong);外界強磁場干(gan)擾;主機未可靠接地(di);
3.Q值偏(pian)低(di),即(ji)電壓升不(bu)上去,或升不(bu)高。
原因(yin):試品(pin)放電泄漏;
電(dian)抗(kang)器(qi)磁(ci)路受干擾,例如電(dian)抗(kang)器(qi)被(bei)放置在磁(ci)場屏蔽范圍(wei)內。
4.電源跳閘。
原因:諧振系統回路(lu)短路(lu)。
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